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基于电路级仿真方法的SRAM型FPGA总剂量效应研究 |
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| 论文目录 |
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| 摘要 | 第1-4页 | | Abstract | 第4-9页 | | 第1章 引言 | 第9-29页 | | ·课题研究背景 | 第9-15页 | | ·SRAM 型 FPGA 的应用需求 | 第9-10页 | | ·空间辐射环境中的总剂量效应 | 第10-13页 | | ·SRAM 型 FPGA 的总剂量效应 | 第13-15页 | | ·总剂量效应的研究现状 | 第15-26页 | | ·效应机理的研究 | 第15-20页 | | ·测试技术的研究 | 第20-21页 | | ·建模和仿真技术的研究 | 第21-24页 | | ·加固方法的研究 | 第24-26页 | | ·相关研究存在的不足 | 第26页 | | ·论文的研究内容和研究目标 | 第26-29页 | | 第2章 深亚微米 CMOS 电路的电路级总剂量效应仿真方法 | 第29-63页 | | ·总剂量效应对单管独立性的影响 | 第29-42页 | | ·三维器件模型的校准 | 第29-33页 | | ·总剂量效应相关参数的校准 | 第33-34页 | | ·总剂量效应在 STI 氧化物中的作用机制研究 | 第34-39页 | | ·器件间漏电流的仿真预测 | 第39-42页 | | ·单一偏置下 MOS 管的损伤模型构建 | 第42-53页 | | ·辐照偏置的概念 | 第42-43页 | | ·损伤模型的构建 | 第43-52页 | | ·不确定性的分析 | 第52-53页 | | ·考虑实际工作状态的电路仿真方法 | 第53-59页 | | ·辐照偏置的影响研究 | 第53-55页 | | ·不同偏置间的等效关系建模 | 第55-58页 | | ·应用 Verilog-A 语言的编程实现 | 第58-59页 | | ·模型及方法的校验 | 第59-62页 | | ·MOS 单管的校验 | 第59-61页 | | ·基准源电路的校验 | 第61-62页 | | ·本章小结 | 第62-63页 | | 第3章 结合解析分析的电路仿真流程 | 第63-84页 | | ·电路的总剂量效应失效表征 | 第63-64页 | | ·模拟电路中的薄弱环节甄别 | 第64-67页 | | ·数字电路中的敏感节点甄别 | 第67-76页 | | ·标准 CMOS 结构电路的建模分析 | 第68-72页 | | ·传输管结构电路的建模分析 | 第72-76页 | | ·结合解析分析的仿真规划 | 第76-78页 | | ·深亚微米 SRAM 电路的总剂量效应失效分析 | 第78-83页 | | ·内部电路模块的失效机理分析 | 第78-80页 | | ·敏感节点的甄别 | 第80-82页 | | ·试验验证 | 第82-83页 | | ·本章小结 | 第83-84页 | | 第4章 SRAM 型 FPGA 的总剂量效应测试技术研究 | 第84-97页 | | ·测试方案的设计 | 第84-87页 | | ·在线测试系统的设计实现 | 第87-88页 | | ·SRAM 型 FPGA 的总剂量效应测试 | 第88-96页 | | ·试验情况简介 | 第88-89页 | | ·在线测试的失效现象分析 | 第89-92页 | | ·离线测试的失效现象分析 | 第92-96页 | | ·结果讨论 | 第96页 | | ·本章小结 | 第96-97页 | | 第5章 SRAM 型 FPGA 的总剂量效应失效分析 | 第97-109页 | | ·敏感电路模块的甄别 | 第97-99页 | | ·针对内部电路的仿真计算 | 第99-106页 | | ·POR 上电复位电路 | 第99-101页 | | ·上电相关电路 | 第101-103页 | | ·全局复位相关电路 | 第103-104页 | | ·CRC 校验电路 | 第104-105页 | | ·配置存储器读写电路 | 第105-106页 | | ·CLB 模块电路 | 第106页 | | ·结果分析与讨论 | 第106-107页 | | ·本章小结 | 第107-109页 | | 第6章 结论与展望 | 第109-112页 | | ·工作总结 | 第109-110页 | | ·研究展望 | 第110-112页 | | 参考文献 | 第112-119页 | | 致谢 | 第119-121页 | | 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第121-122页 |
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论文编号BS1880461，这篇论文共122页
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