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铜扁线表面缺陷识别的设计与实现 |
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论文目录 |
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摘要 | 第1-6页 | Abstract | 第6-10页 | 第一章 绪论 | 第10-13页 | ·连续挤压技术的背景及发展现状 | 第10-11页 | ·数字图像处理技术发展状况 | 第11页 | ·目前生产过程中的检测技术和新检测技术的意义 | 第11-12页 | ·本文的主要工作 | 第12-13页 | 第二章 连续挤压技术与工艺 | 第13-19页 | ·连续挤压技术 | 第13-16页 | ·连续挤压技术原理 | 第13-15页 | ·连续挤压技术的优点 | 第15页 | ·连续挤压技术的应用 | 第15-16页 | ·连续挤压工艺和其影响因素 | 第16-18页 | ·连续挤压设备与连续挤压技术的工艺 | 第16-17页 | ·影响金属挤压的工艺因素 | 第17-18页 | 本章小结 | 第18-19页 | 第三章 缺陷识别系统的整体设计方案 | 第19-23页 | ·铜扁线缺陷识别系统的功能要求 | 第19-20页 | ·缺陷识别系统的硬件设计方案 | 第20-21页 | ·缺陷识别系统的软件设计方案 | 第21-22页 | 本章小结 | 第22-23页 | 第四章 缺陷识别系统的硬件组成 | 第23-44页 | ·高速相机 | 第23-29页 | ·高速相机分类和区别 | 第23-25页 | ·高速相机的选择 | 第25-29页 | ·接口和线缆 | 第29-33页 | ·Camera link标准 | 第29-30页 | ·USB、IEEE1394和Gigabit Ethernet | 第30-31页 | ·几种标准的对比 | 第31-33页 | ·图像采集卡 | 第33-40页 | ·图像采集卡的指标 | 第33-34页 | ·图像采集卡的分类 | 第34-35页 | ·图像采集卡的选择 | 第35-40页 | ·计算机的选择 | 第40-41页 | ·光源的选择 | 第41-42页 | ·系统硬件构成 | 第42-43页 | 本章小结 | 第43-44页 | 第五章 缺陷识别系统识别方法研究 | 第44-65页 | ·MATLAB | 第44-45页 | ·MATLAB语言简介 | 第44页 | ·MATLAB语言的特点 | 第44-45页 | ·数字图像处理技术 | 第45-55页 | ·灰度变换 | 第45-46页 | ·平滑滤波 | 第46-50页 | ·边缘检测 | 第50-53页 | ·膨胀运算 | 第53-55页 | ·背景差分法 | 第55-59页 | ·背景差分法的缺陷检测原理 | 第55页 | ·背景差分法缺陷检测的流程 | 第55-56页 | ·标准图的选取与处理 | 第56页 | ·Sobel边缘检测 | 第56-57页 | ·对标准图的处理 | 第57页 | ·相通缺陷区域的合并 | 第57-58页 | ·背景差分法优缺点分析 | 第58-59页 | ·坐标轴投影识别法 | 第59-64页 | ·坐标投影识别法的检测原理 | 第59页 | ·缺陷特征分析 | 第59-60页 | ·投影缺陷检测的流程 | 第60-61页 | ·平滑滤波 | 第61-62页 | ·铜扁线背景的分离 | 第62页 | ·坐标轴投影识别 | 第62-64页 | 本章小结 | 第64-65页 | 第六章 基于数字图像处理的铜扁线缺陷识别实验 | 第65-74页 | ·铜扁线分离背景实验 | 第65-69页 | ·缺陷阀值分割实验 | 第69-71页 | ·坐标轴投影识别实验 | 第71-73页 | 本章小结 | 第73-74页 | 第七章 缺陷识别系统界面设计 | 第74-81页 | ·铜扁线缺陷识别系统用户界面 | 第74-79页 | ·用户界面转为Windows下可执行文件 | 第79-80页 | 本章小结 | 第80-81页 | 结论 | 第81-82页 | 参考文献 | 第82-84页 | 附录 低通、高通滤波器 | 第84-87页 | 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第87-88页 | 致谢 | 第88页 |
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