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高分辨率X射线数字化成像技术研究
 
     论文目录
 
摘要第1-4页
Abstract第4-10页
第一章 绪论第10-16页
   ·研究背景第10-11页
   ·与本课题相关的研究状况第11-13页
   ·本文研究的主要内容与思路第13-16页
第二章 射线成像检测技术基础第16-32页
   ·无损检测的射线种类第16-17页
   ·X射线的产生及其特点第17-21页
     ·低能X射线的产生及特点第17-20页
     ·微束斑X射线源第20-21页
   ·射线与物质的相互作用第21-26页
     ·光电效应第21-22页
     ·康普顿效应第22-23页
     ·电子对效应第23-24页
     ·瑞利散射第24页
     ·各种相互作用发生的相对几率第24-26页
   ·X射线透射物质的衰减规律第26-31页
     ·窄束、单色射线的强度衰减规律第26-28页
     ·宽束、多色射线的强度衰减规律第28-31页
   ·常用辐射物理量及其单位第31页
   ·本章小结第31-32页
第三章 X射线数字化成像技术第32-58页
   ·射线胶片成像技术与数字化成像技术概述第32-33页
     ·射线胶片成像技术简介第32页
     ·射线实时成像技术简介第32页
     ·射线数字化成像技术简介第32-33页
   ·X射线荧光透视成像技术第33页
   ·基于一代X射线图像增强器(Ⅻ)的射线成像系统第33-37页
     ·一代X射线图像增强器(X-ray image intensifier)第34-35页
     ·一代X射线图像增强器的性能参数第35-37页
   ·线阵探测器扫描成像系统第37-42页
     ·LDA的组成结构第39-40页
     ·LDA的性能参数第40-41页
     ·特点与应用第41-42页
   ·基于光纤耦合CCD的射线成像系统第42-43页
     ·基于光纤闪烁体的耦合CCD射线成像系统第42页
     ·基于像增强器的光纤耦合CCD射线成像系统第42-43页
   ·X射线平板探测器数字成像系统第43-49页
     ·平板探测器的成像原理第44-45页
     ·平板探测器的内部构造第45-46页
     ·X射线平板探测器数字成像系统的组成第46-47页
     ·平板探测器的应用前景第47-49页
   ·X射线实时成像系统性能评价方法第49-57页
     ·评价方法概述第49-50页
     ·图像清晰度第50-54页
     ·透度灵敏度第54-55页
     ·图像调制传递函数第55-56页
     ·射线实时成像检测系统分辨率及设备的选用原则第56-57页
   ·本章小结第57-58页
第四章 基于MCP-X射线像增强器的电子工业X射线检测机的研制第58-92页
   ·电子工业X射线检测的特点与要求第58页
   ·电子工业X射线检测机的设计思路与总体方案第58-62页
     ·X射线检测机的研制思路第58-59页
     ·X射线检测机的总体方案第59-61页
     ·X射线检测机的主要性能指标要求第61-62页
   ·电子工业X射线检测系统的硬件设计第62-86页
     ·X射线源的选择第62-66页
     ·X射线像增强器的选择第66-73页
     ·光学镜头与工业相机的选择第73-77页
     ·显示器分辨率要求第77页
     ·系统分辨率理论分析第77-85页
     ·X射线检测机系统控制台第85-86页
   ·电子工业X射线检测系统的软件设计第86-89页
     ·软件功能第86-87页
     ·软件开发环境第87-88页
     ·软件结构第88页
     ·多线程的设计方案第88-89页
   ·本章小结第89-92页
第五章 电子工业用X射线检测机中影响成像质量因素分析及校正第92-132页
   ·概述第92-93页
   ·基于MCP-X射线像增强器的三维噪声测量及其分析第93-101页
     ·三维噪声的测量模型第93-96页
     ·三维噪声测量系统第96页
     ·三维噪声测量及分析第96-101页
   ·MCP-X射线像增强器产生噪声成因分析第101-103页
     ·光电阴极对射线响应的固有不一致性第101-102页
     ·微通道板增益的不一致性第102页
     ·荧光屏对入射电子响应的固有不一致性第102-103页
   ·CMOS工业相机产生噪声成因分析第103-105页
     ·CMOS图像传感器中的暗噪声第103-104页
     ·CMOS图像传感器像元光响应不均匀性第104页
     ·透射的X射线脉冲噪声对CMOS图像传感器成像的影响第104-105页
   ·系统成像中图像随机噪声的校正第105-117页
     ·帧积分法去除射线图像中的随机噪声第106-109页
     ·工程化中帧积分算法的改进第109-117页
   ·系统成像中固有不均匀噪声的校正第117-126页
     ·系统成像数学模型的建立第118-121页
     ·基于曲面拟合的不均匀性校正算法第121-125页
     ·系统固有不均匀性噪声校正实例第125-126页
   ·针对射线图像特点的灰度值调整第126-130页
   ·原理样机的性能指标第130-131页
   ·本章小结第131-132页
第六章 结束语第132-136页
   ·本论文的主要研究成果第132-133页
   ·本论文的创新之处第133-134页
   ·本文的不足之处和需要进一步研究的工作第134页
   ·总结第134-136页
致谢第136-138页
参考文献第138-146页
攻读博士期间发表或已录用的论文第146页
已申请专利第146-148页
附录1第148-153页
附录2第153-154页

 
 
论文编号BS545583,这篇论文共154
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