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高分辨率X射线数字化成像技术研究 |
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论文目录 |
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摘要 | 第1-4页 | Abstract | 第4-10页 | 第一章 绪论 | 第10-16页 | ·研究背景 | 第10-11页 | ·与本课题相关的研究状况 | 第11-13页 | ·本文研究的主要内容与思路 | 第13-16页 | 第二章 射线成像检测技术基础 | 第16-32页 | ·无损检测的射线种类 | 第16-17页 | ·X射线的产生及其特点 | 第17-21页 | ·低能X射线的产生及特点 | 第17-20页 | ·微束斑X射线源 | 第20-21页 | ·射线与物质的相互作用 | 第21-26页 | ·光电效应 | 第21-22页 | ·康普顿效应 | 第22-23页 | ·电子对效应 | 第23-24页 | ·瑞利散射 | 第24页 | ·各种相互作用发生的相对几率 | 第24-26页 | ·X射线透射物质的衰减规律 | 第26-31页 | ·窄束、单色射线的强度衰减规律 | 第26-28页 | ·宽束、多色射线的强度衰减规律 | 第28-31页 | ·常用辐射物理量及其单位 | 第31页 | ·本章小结 | 第31-32页 | 第三章 X射线数字化成像技术 | 第32-58页 | ·射线胶片成像技术与数字化成像技术概述 | 第32-33页 | ·射线胶片成像技术简介 | 第32页 | ·射线实时成像技术简介 | 第32页 | ·射线数字化成像技术简介 | 第32-33页 | ·X射线荧光透视成像技术 | 第33页 | ·基于一代X射线图像增强器(Ⅻ)的射线成像系统 | 第33-37页 | ·一代X射线图像增强器(X-ray image intensifier) | 第34-35页 | ·一代X射线图像增强器的性能参数 | 第35-37页 | ·线阵探测器扫描成像系统 | 第37-42页 | ·LDA的组成结构 | 第39-40页 | ·LDA的性能参数 | 第40-41页 | ·特点与应用 | 第41-42页 | ·基于光纤耦合CCD的射线成像系统 | 第42-43页 | ·基于光纤闪烁体的耦合CCD射线成像系统 | 第42页 | ·基于像增强器的光纤耦合CCD射线成像系统 | 第42-43页 | ·X射线平板探测器数字成像系统 | 第43-49页 | ·平板探测器的成像原理 | 第44-45页 | ·平板探测器的内部构造 | 第45-46页 | ·X射线平板探测器数字成像系统的组成 | 第46-47页 | ·平板探测器的应用前景 | 第47-49页 | ·X射线实时成像系统性能评价方法 | 第49-57页 | ·评价方法概述 | 第49-50页 | ·图像清晰度 | 第50-54页 | ·透度灵敏度 | 第54-55页 | ·图像调制传递函数 | 第55-56页 | ·射线实时成像检测系统分辨率及设备的选用原则 | 第56-57页 | ·本章小结 | 第57-58页 | 第四章 基于MCP-X射线像增强器的电子工业X射线检测机的研制 | 第58-92页 | ·电子工业X射线检测的特点与要求 | 第58页 | ·电子工业X射线检测机的设计思路与总体方案 | 第58-62页 | ·X射线检测机的研制思路 | 第58-59页 | ·X射线检测机的总体方案 | 第59-61页 | ·X射线检测机的主要性能指标要求 | 第61-62页 | ·电子工业X射线检测系统的硬件设计 | 第62-86页 | ·X射线源的选择 | 第62-66页 | ·X射线像增强器的选择 | 第66-73页 | ·光学镜头与工业相机的选择 | 第73-77页 | ·显示器分辨率要求 | 第77页 | ·系统分辨率理论分析 | 第77-85页 | ·X射线检测机系统控制台 | 第85-86页 | ·电子工业X射线检测系统的软件设计 | 第86-89页 | ·软件功能 | 第86-87页 | ·软件开发环境 | 第87-88页 | ·软件结构 | 第88页 | ·多线程的设计方案 | 第88-89页 | ·本章小结 | 第89-92页 | 第五章 电子工业用X射线检测机中影响成像质量因素分析及校正 | 第92-132页 | ·概述 | 第92-93页 | ·基于MCP-X射线像增强器的三维噪声测量及其分析 | 第93-101页 | ·三维噪声的测量模型 | 第93-96页 | ·三维噪声测量系统 | 第96页 | ·三维噪声测量及分析 | 第96-101页 | ·MCP-X射线像增强器产生噪声成因分析 | 第101-103页 | ·光电阴极对射线响应的固有不一致性 | 第101-102页 | ·微通道板增益的不一致性 | 第102页 | ·荧光屏对入射电子响应的固有不一致性 | 第102-103页 | ·CMOS工业相机产生噪声成因分析 | 第103-105页 | ·CMOS图像传感器中的暗噪声 | 第103-104页 | ·CMOS图像传感器像元光响应不均匀性 | 第104页 | ·透射的X射线脉冲噪声对CMOS图像传感器成像的影响 | 第104-105页 | ·系统成像中图像随机噪声的校正 | 第105-117页 | ·帧积分法去除射线图像中的随机噪声 | 第106-109页 | ·工程化中帧积分算法的改进 | 第109-117页 | ·系统成像中固有不均匀噪声的校正 | 第117-126页 | ·系统成像数学模型的建立 | 第118-121页 | ·基于曲面拟合的不均匀性校正算法 | 第121-125页 | ·系统固有不均匀性噪声校正实例 | 第125-126页 | ·针对射线图像特点的灰度值调整 | 第126-130页 | ·原理样机的性能指标 | 第130-131页 | ·本章小结 | 第131-132页 | 第六章 结束语 | 第132-136页 | ·本论文的主要研究成果 | 第132-133页 | ·本论文的创新之处 | 第133-134页 | ·本文的不足之处和需要进一步研究的工作 | 第134页 | ·总结 | 第134-136页 | 致谢 | 第136-138页 | 参考文献 | 第138-146页 | 攻读博士期间发表或已录用的论文 | 第146页 | 已申请专利 | 第146-148页 | 附录1 | 第148-153页 | 附录2 | 第153-154页 |
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