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当前位置:教育论文中心首页--硕士论文--S12系列微控制器的编程调试系统的设计与实现
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S12系列微控制器的编程调试系统的设计与实现
 
     论文目录
 
中文摘要第1-4页
Abstract第4-7页
第1章 绪论第7-15页
   ·S12系列微控制器第7-8页
   ·嵌入式常用调试方法分析第8-11页
   ·国内外研究现状第11页
   ·课题实现的目标及意义第11-12页
   ·本文的工作与结构第12-15页
     ·本文课题来源第12-13页
     ·本文工作第13页
     ·本文结构第13-15页
第2章 编程调试系统相关技术的研究第15-25页
   ·BDM调试模式的技术研究第15-21页
     ·BDM模块结构第15-16页
     ·BDM位通信时序第16-18页
     ·BDM命令第18-19页
     ·BDM激活方式第19-20页
     ·BDM断点机制第20-21页
   ·FLASH存储器的编程技术第21-24页
     ·FLASH存储器的基本特点第21页
     ·FLASH存储器编程的基本概念第21-22页
     ·FLASH寄存器第22-24页
   ·本章小结第24-25页
第3章 编程调试系统的实现方案及硬件设计第25-31页
   ·编程调试系统的实现方案第25-26页
   ·编程调试器芯片选型第26-27页
   ·基本系统的电路设计第27-30页
     ·电源电路第27-28页
     ·晶振电路第28页
     ·复位电路第28页
     ·USB接口电路第28-29页
     ·BDM接口电路第29-30页
   ·本章小结第30-31页
第4章 BDM编程调试器软件的设计与实现第31-51页
   ·编程调试器软件设计流程第31-32页
   ·USB模块设计第32-35页
     ·USB初始化第32页
     ·USB设备枚举第32-34页
     ·USB数据传输第34-35页
   ·BDM功能模块设计第35-50页
     ·目标芯片频率测试第35-37页
     ·BDM字节通信的实现第37-41页
     ·BDM字节收发子程序选择第41页
     ·BDM命令的实现第41-43页
     ·目标芯片FLASH擦除功能的实现第43-45页
     ·目标芯片FLASH写入功能的实现第45-48页
     ·调试功能实现第48-50页
   ·本章小结第50-51页
第5章 编程调试系统高端软件的设计与实现第51-73页
   ·USB通信实现第51-52页
   ·目标代码分析第52-55页
     ·S1格式目标代码分析第52-53页
     ·S2格式目标代码分析第53-55页
   ·擦写功能的实现第55-57页
   ·通信流程的改进第57-59页
   ·擦除写入模块通用性设计第59-60页
   ·调试功能实现第60-72页
     ·list文件分析第60-62页
     ·断点设置第62-63页
     ·逐语句调试第63-64页
     ·逐过程调试第64-65页
     ·"跳过"功能第65-66页
     ·变量数据的获取与处理第66-72页
   ·本章小结第72-73页
第6章 总结与展望第73-76页
   ·设计体会第73-74页
   ·总结第74-75页
   ·展望第75-76页
参考文献第76-78页
附录A UF32芯片USB模块寄存器第78-79页
攻读硕士学位期间公开发表的论文第79-80页
致谢第80-81页
详细摘要第81-83页

 
 
论文编号BS690541,这篇论文共83
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